菲希爾代理FISCHER測(cè)厚儀XDLM237信息

x射線熒光鍍層測(cè)厚儀FISCHER XDLM237

德國(guó)菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237也稱(chēng)為X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀，采用手動(dòng)或自動(dòng)方式，菲希爾測(cè)厚儀FISCHER測(cè)厚儀，測(cè)量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。

菲希爾測(cè)厚儀FISCHER測(cè)厚儀

x射線熒光鍍層測(cè)厚儀FISCHER XDLM237

德國(guó)菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

1，測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件

2，測(cè)量微小區(qū)域上的薄鍍層

3，測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

4，全自動(dòng)測(cè)量，如測(cè)量印刷線路板