泰勒霍普森接觸式粗糙度儀DUO測量原理

泰勒霍普森接觸式粗糙度儀DUO測量原理

按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)(如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt)會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和精確的現(xiàn)場測量。

測量原理：通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動驅動裝置，確保行進正確的水平距離。當測針劃過波峰和波谷時，高感應度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動，然后將機械移動轉化為電子信號。電子信號將進行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器， 然后使用標準化算法即時計算表面粗糙度參數(shù)。Surtronic DUO粗糙度儀