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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO測量原理

  • 發(fā)布日期:2022-05-09      瀏覽次數:1161
    • 泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO測量原理

      泰勒霍普森粗糙度儀測量原理
      通過采用耐磨的金剛石測針部件,以及精密的機動驅動裝置,確保行進正確的水平距離。當測針劃過波峰和波谷時,高感應度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動,然后將機械移動轉化為電子信號。電子信號將進行數字化處理并發(fā)送到微處理器,然后使用標準化算法即時計算表面粗糙度參數。

      無錫駿展儀器有限責任公司的產品和系統(tǒng)解決方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設、大學和其他研究實驗室和生產線,質量控制,和教育事業(yè),以評估的幾何特征的材料,組件和結構和理化性質,先進制造技術的驅動精益求精。


      泰勒霍普森粗糙度儀

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