XDAL237測(cè)厚儀工作原理信息

工作原理該測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)強(qiáng)度衰減的特性來測(cè)量材料厚度。X射線源發(fā)射特定波長(zhǎng)的射線，射線穿透被測(cè)物體后，剩余強(qiáng)度被探測(cè)器接收并轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過放大和處理后，由操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。技術(shù)參數(shù)測(cè)量元素范圍：Al（13）-U（92）。分析軟件：WinFTM（V6 BASIC），最多可同時(shí)測(cè)量23層鍍層，24種元素。X射線發(fā)生裝置：W靶微聚焦射線管。高壓：三種可調(diào)高壓：10kV，30kV，50kV。準(zhǔn)直器：4個(gè)可切換準(zhǔn)直器（?0.1/?0.3/?0.6/?0.5×0.15mm）。測(cè)量點(diǎn)大小：約?0.15mm。X射線接收器：硅漂移SDD半導(dǎo)體探測(cè)器，F(xiàn)WHM≤160eV。濾波片：3種可切換濾片（鎳/鋁/無）。放大倍數(shù)：40X-160X。樣品臺(tái)尺寸：300×350mm。Z軸：可編程運(yùn)行。設(shè)備特點(diǎn)測(cè)量空間大：可測(cè)量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品，C型槽設(shè)計(jì)方便測(cè)量大平面樣品。自動(dòng)化程度高：配備可編程運(yùn)行的XY軸工作臺(tái)以及Z軸升降系統(tǒng)，可按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面，實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)測(cè)量和批量測(cè)量的自動(dòng)化。定位精準(zhǔn)：裝備高分辨率彩色視頻攝像頭，具備強(qiáng)大放大功能，可精確定位測(cè)量位置。適應(yīng)性強(qiáng)：在電子工業(yè)、半導(dǎo)體工業(yè)、珠寶制造等行業(yè)均有廣泛應(yīng)用，可滿足不同行業(yè)對(duì)鍍層厚度測(cè)量和材料成分分析的需求。應(yīng)用領(lǐng)域廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空、珠寶制造等行業(yè)，用于測(cè)量功能性涂層、金屬鍍層等的厚度，確保產(chǎn)品質(zhì)量和性能穩(wěn)定。